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更新时间:2024-08-19
IC卡扭曲测试仪用于检测磁条卡,IC芯片卡,集成电路卡,等卡的弯曲和扭曲性能测试。
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IC卡扭曲测试仪主要用于RFID电子标签抗扭曲性能的检测和少量电子标签抗弯曲应力性能的检测。
IC卡扭曲测试仪主要技术参数要求:
1)扭曲度: ±15°±1° 双向d=86 mm,正反向各15°,总扭曲角度30°
2)长边大位移量:70mm(±1 mm)
3)长边小位移量:40.375mm±0.50mm
4)短边大位移量:30mm(±1 mm)
5)短边小位移量:23.3mm(±1 mm)
6)支持标准: Q/GDW 1893-2013
7)测试速度: 30r/min,0.5Hz
8)测试周期: 1~9999次
用于检测磁条卡,IC芯片卡,集成电路卡,等卡的弯曲和扭曲性能测试。