智能卡扭曲测试仪

智能卡扭曲测试仪主要用于RFID电子标签抗扭曲性能的检测和少量电子标签抗弯曲应力性能的检测。

智能卡扭曲测试仪主要技术参数要求：

1）扭曲度： ±15°±1° 双向d=86 mm，正反向各15°，总扭曲角度30°

2）长边大位移量：70mm（±1 mm）

3）长边小位移量：40.375mm±0.50mm

4）短边大位移量：30mm（±1 mm）

5）短边小位移量：23.3mm（±1 mm）

6）支持标准：   Q/GDW 1893-2013

7）测试速度：   30r/min,0.5Hz

8）测试周期：   1~9999次

用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。